پاورپوینت تست مدارهاي ديجيتال با روش JTAG (pptx) 25 اسلاید

دسته بندی : پاورپوینت

نوع فایل : PowerPoint (.pptx) ( قابل ویرایش و آماده پرینت )

تعداد اسلاید: 25 اسلاید

قسمتی از متن PowerPoint (.pptx) :

بنام خدا ذ تست مدارهاي ديجيتال با روش JTAG عناوين اصلي 1) مقدمه 5) زبان BSDL 4) مدار کنترلي مورد نياز 3) معماري پيمايش مرزي 2) JTAG چيست؟ 6) مصارف ديگر روش JTAG مقدمه امروزه تجهيزات الکترونيکي که مورد استفاده روز مره قرار مي گيرند در حال کوچک شدن هستند. با افزايش حجم مدارات الکتروتيکي و نياز به بوردهاي چند لايه و همچنين متمرکز کردن مدارات بر روي يک تراشه ، ديگر امکان دسترسي به پايه هاي تراشه ها يا تست به روش “Bed of Nails” غير ممکن شده است. سير صعودي استفاده از قطعات کوچک که در دو طرف بردهاي PCB استفاده مي شوند باعث شده که تست اين بردها و برنامه ريزي آنها براي مهندسان مشکل شود. علاوه بر کوچک شدن قطعات ، افزايش سرعت بردهاي ديجيتال باعث شده است که روشهاي تست سنتي غير ممکن شود. بنابرين براي حل اين مشکلات بايد روشي جهت تست اين مدارها انديشيده شود. مشخصاتي که اين روشها بايد داشته باشند عبارتند از: - داراي کمترين بالا سري باشند -کم هزينه باشند -قابل گسترش باشند همکاري شرکتهاي بين المللي جهت ارايه راه حل JTAG Joint Test Action Group در سال 1985 گروهي از شرکتهاي بزرگ ساخت آي سي(Joint Test Action Group ) روشي کم هزينه براي تست معرفي کردند. اين روش در سا ل1990 توسط IEEE به استانداردي تحت عنوان IEEE std 1149.1 معرفي شد. طبق اين استاندارد شرکتهاي سازنده ابزارهاي الکترونيکي مي بايست مدارهايي را در ورودي و خروجي هاي آي سي ها به منظور تست نعبيه کنند علاوه بر اين بايد مداري براي کنترل اين قسمت در نظر گرفته شود. ساختار روش ارايه شده توسط گروه JTAG در قسمت قبل گفته شد که کارخانه هاي ساخت ابزارهاي الکترونيکي بايد مدارهايي را در ورودي و خروجي هر تراشه تعبيه کنند. اين مدار که بين پايه هاي تراشه و مدار داخلي قرار مي‌گبرد را سلول مي‌ناميم. اين سلولها به يکديگر متصلند و از طريق مدار کنترل از بيرون قابل دسترسي هستند. JTAG هر کدام از اين سلولها را ،BSC ( Boundary Scan Cell )ناميد و از روش پيمايش مرزي( Boundary Scan ) براي تست استفاده کرد. روش پيمايش مرزي توسط IEEE استاندارد شده است و زباني براي توصيف آن به نامBSDL Boundary Scan Description Language)) پايه گذاري شده است. در ادامه به تشريح اين مطلب پرداخته مي شود. نحوه چينش سلولهاي تست در يک تراشه ساختار داخلي BSC هر سلول داراي 4 ورودي ، خروجي اصلي و تعدادي سيگنال کنترلي است. هر سلول با سلولهاي مجاورش ارتباط دارد سلولها پايه هاي تراشه را به مدار داخلي آن متصل مي کنند. ارتباط TAP با دنياي خارج سلولها به صورت سريال به يكديگر متصلند و تشکيل يک شيفت رجيستر مي دهند. اين شيفت رجيستر Data Register (DR ) ناميده مي شود. توسط DR تمام پايه هاي ورودي ، خروجي به صورت مجازي قابل دسترسي هستند به همين دليل به آنها Virtual Nail نيز گفته مي شوند. اين شيفت رجيستر توسط کنترلري به نام Test Access Port (TAP )كنترل مي شود. ا TAP با دنياي خارج توسط 4 پين اصلی زير در ارتباط است: -TCK (Test Clk ): اين پايه فراهم کننده کلاک براي TAP است. -TMS (Test Mode Select ) : ترتيب اجراي دستورات در TAP controller بوسيله وضعيت اين پايه در لبه بالا رونده TCK تعيين مي شود، اين پايه داراي يک pull up خارجي است. -TDI : ( Test Data In ): اين پايه يک ورودي سريال براي TAP است که به کمک آن مي توان به TAP فرمان داد که چه دستوري را انجام دهد ، همچنين از اين پايه براي مقدار دادن به پايه هاي ورودي يا خروجي تراشه مي توان استفاده کرد. -TDO ( Test Data Out ) :اين پايه يک خروجي سريال براي TAP است وضعيت اين پايه توسط TMS و IR تعيين مي شود.در مواقعي که به TDO نيازي نيست خروجي آن Hi Z مي شود.اين پايه pull up داخلي است. -